XRF/RFA – Röntgenfluoreszenz- Spektrometerie

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Röntgenfluoreszenz- Spektrometer

Analyse der Elemente mit Ordnungszahl 11 (Na) bis 92 (U). Analyse von Metallen, Gestein, Keramik, Kunststoffen. Schichtdickenbestimmung möglich.

UntersuchungsmethodeRöntgenfluoreszenz-Spektrometerie
KurzzeichenXRF/RFA
Gerätetyp und AusrüstungBruker S2 PUMA
FunktionsprinzipProbenoberfläche wird einige µm tief mit Röntgenstrahlung angeregt. Die dadurch von den Elementen abgegebene elementspezifische Röntgenstrahlung (Fluoreszenz) wird zur quantitativen Analyse der Probe verwendet.
Typische AnwendungenAnalyse der Elemente mit Ordnungszahl 11 (Na) bis 92 (U). Analyse von Metallen, Gestein, Keramik, mineralische Füllstoffe in Kunststoffen. Schichtdickenbestimmung möglich.
Nachweisgrenzetypisch 100 µg/g (elementabhängig)
Anforderungen an Probequantitativ: 1g
qualitativ: 10mg
massiv oder flüssig
ideal: pulverförmig
Akkreditierung / ZertifizierungISO9001

Eine Übersicht weiterer Methoden aus dem Bereich chemische Analytik finden Sie in unserem Lexikon – chemische Analytik

Kontaktieren Sie mich

Patrik Bachmann

Dipl. Chemiker und Experte für Aluminium Oberflächen

Tel: +41 52 551 11 69
Mail: analytik@suisse-tp.ch