Suisse TP » Methoden » Oberflächentopographie

Oberflächentopographie

TOPOGRAPHISCHE MESSUNGEN

Oberflächentopographie beeinflusst maßgeblich Faktoren für die Eigenschaften einer Oberfläche. Nicht nur Glanz und Ästhetik oder die Oberflächenrauheit von Oberflächen werden durch die Topographie beeinflusst. Von der Schichthaftung über den Reibwert bis hin zur Korrosion ist die Oberflächentopographie ein entscheidender Faktor.

Messung mittels Weisslichtinterferometrie

Weisslichtinterferometrie (WLI) ist eine berührungslose, optische Methode zur Erfassung der Oberflächentopographie. Sie nutzt die Interferenz breitbandigen Lichts (Weißlicht) aus um 3D-Profilmessungen von Strukturen zwischen einigen Zentimetern und einigen Mikrometern zu erstellen.
Sie ermöglichen es, sowohl sehr glatte Oberflächen mit einer vertikalen Auflösung im nm Bereich als auch raue Oberflächen im Mikrometerbereich und steile Flanken zu messen. Die Ergebnisse werden als 2D-Profil – oder 3D-Topographie-Bilder dargestellt und liefern detaillierte Höhenprofile und Rauheitsparameter.

Reicht der Vergrösserungsbereich bis 1’000x mittels Weisslichtinterferometrie nicht aus, haben wir die Möglichkeit die Oberfläche mittels Rasterelektronenmikroskop bildlich darzustellen.

Gerätetyp und Ausrüstung	Wyko NT8000
Funktionsprinzip	Oberflächenmessungen an glatten und rauhen Oberflächen mit dem Interferometer in verschiedenen Vergrösserungsbereichen 10x – 1’000x
Typische Anwendungen	Betrachtung und Vermessung der Tiefe von Oberflächendefekten oder Stufen, Nuten etc. sowie die Bestimmung der Oberflächenrauheit.
Anforderungen an die Probe	Reflektierende Oberfläche (transparente Oberflächen müssen vorab bedampft werden)

Messung mittels REM EDX

Durch unser Rasterelektronenmikroskop sind wir in der Lage die Oberfläche mit einer Vergrösserung von bis zu 100’000 fach abzubilden. Dies ermöglicht es beispielsweise unseren Experten in der Entwicklung von Oberflächen einige Parameter der Güte einer anodisierten Oberfläche zu bestimmen.