Weisslichtinterferometrie – WYKO

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Weisslichtinterferenz-Mikroskopie

TOPOGRAPHISCHE MESSUNGEN (WYKO)

Berührungslose Vermessung der Oberflächenbeschaffenheit  in verschiedenen Vergrösserungsbereichen.

Die Weißlichtinterferometrie (WLI) ist eine berührungslose optische Messmethode der Oberflächenbeschaffenheit. Sie nutzt die Interferenz breitbandigen Lichts (Weißlicht) aus um 3D-Profilmessungen von Strukturen zwischen einigen Zentimetern und einigen Mikrometern zu erstellen.

Gerätetyp und AusrüstungWyko NT8000
FunktionsprinzipOberflächenmessungen an glatten und rauhen Oberflächen mit dem Interferometer in verschiedenen Vergrösserungsbereichen
Typische AnwendungenBetrachtung und Vermessung der Tiefe  von Oberflächendefekten oder Stufen, Nuten etc. sowie die Bestimmung von Rauheitskennwerten der Oberfläche.
Anforderungen an die ProbeReflektierende Oberfläche (transparente Oberflächen müssen vorab bedampft werden)

 

Topographische Messung für die technische Sicherheit

 

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Eine Übersicht weiterer Methoden aus dem Bereich Materialographie und Metallographie finden Sie in unserem Lexikon – Materialographie

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Matthias Schellenberg

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